名稱：美國(guó)中小型水浸式超聲C掃描系統(tǒng)$n 型號(hào)：UPK-T10，UPK-T24，UPK-T36，UPK-T48，UPK-T60，UPK-T72等。$n 產(chǎn)地：美國(guó)$n 應(yīng)用：進(jìn)行高分子材料、復(fù)合材料、構(gòu)件內(nèi)部分層、脫粘、夾雜等缺陷的無(wú)損檢測(cè)和評(píng)價(jià)。

名稱: 德國(guó)X射線及工業(yè)CT系統(tǒng)Y. CT Precision 型號(hào)：Y. CT Precision 產(chǎn)地：德國(guó) 應(yīng)用： Y. CT Precision是一款適用于中小零件的高分辨率錐束CT（計(jì)算機(jī)斷層掃描）檢測(cè)系統(tǒng)。

名稱：德國(guó)超聲波掃描顯微鏡 型號(hào)：V-1000E 產(chǎn)地：德國(guó) 應(yīng)用：晶圓面處分層缺陷；錫球、晶圓、或填膠中的開裂；晶圓的傾斜；各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等）

名稱：德國(guó)超聲波掃描顯微鏡$n型號(hào)：V-700E $n產(chǎn)地：德國(guó)$n應(yīng)用：晶圓面處分層缺陷；錫球、晶圓、或填膠中的開裂；晶圓的傾斜；各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等）

三維云紋干涉儀：該設(shè)備用于測(cè)量試件在機(jī)械或熱載荷作用下的三維熱機(jī)械變形場(chǎng)（面內(nèi)的U,V場(chǎng)和離面的W場(chǎng)）。在電子封裝領(lǐng)域，該設(shè)備是重要的失效分析手段。

臥式光彈系數(shù)測(cè)試儀(ANA6000P-H)是應(yīng)用偏振光干涉原理對(duì)應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進(jìn)行實(shí)驗(yàn)應(yīng)力測(cè)試的儀器，簡(jiǎn)稱光彈儀。應(yīng)用它可以通過(guò)模型在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行大型建筑構(gòu)件、水壩壩體、重型機(jī)械部件的應(yīng)力和應(yīng)力分布的測(cè)試，并可以在模型上直接看到被測(cè)件的全部應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。